淺談失效機理發(fā)表時間:2022-03-25 14:12
在產品研發(fā)過程中,如汽車,從整車架構、子系統(tǒng)、部件等層次,做失效模式影響分析的時候,一級牽涉一級,每個結果都有失效模式,推理到了最后,如果Root Cause發(fā)現電容壞掉了,出現短路的情況,這時候怎么辦呢?其實還是需要把真正的原因找出來,到底是什么原因讓它失效了。這個是我以前理解的DFMEA里面做不到的,因為以前只能做到電源沒有了,是因為電容短路了,電容為什么短路,可能的原因要問電容供應商了。 所以做產品的工程師,需要掌握的不僅僅是失效模式、設計方法、而且需要理解失效機理,到底是什么原因導致元器件的失效。
失效機理有以下的特點: * 失效機理是失效模式的原因 * 失效機理是有限的,能夠被容易識別出來
如上圖所示,這里的失效機理,可以分兩大類: 1)過應力(OverStress)單一的應力導致部件過線 這里還是分兩種,一種是非材料損傷的問題,如電氣、機械和熱。典型的例子為供電不足或者是達不到啟動條件。 第二中是材料損傷,有以下的種類 * 斷裂 Fracture* 彎曲Bucklin * 彎曲和硬度 Yielding and Brinnelling * 過壓Electrical Overstress * 靜電Electrostatic Discharge * 電離擊穿 Dielectric Breakdown * 熱擊穿Thermal Breakdown 這里就是我以前的主要最壞情況分析的三種,電壓應力、靜電和熱核算的主要緣由,這些瞬間的應力,就直接對部件產生了損壞。這里最重要的一個概念是,所有的電阻和電容,其實都是由材料工藝做成的,比如板級的彎曲應力,作用在元器件上,焊點和內部的構造,就會產生一定的損傷。 2)累積損傷(Cumulative Damage):持續(xù)的使用達到了部件的耐久限制,導致失效。 這里才是長期可靠性的設計問題所在,器件本身是暴露環(huán)境中的,持續(xù)長久的使用導致了元件材料的退化和損傷,積累到一定程度就出現失效。國內的廠家,一般會采用高溫老化來進行初步篩選,但是在這一層次,如果不能理解環(huán)境和使用條件,對于材料的損傷,對元器件的壽命,僅僅用一個失效率(平均無故障使用時間)就太理想化了。這個數值,其實是大量的實驗,對一類產品進行測試,統(tǒng)計而出的。但是由于材料、工藝乃至供應商的不同,它們的數值又豈會是一樣的,更何況你模塊所在的位置,模塊的布置和設計,這些又有很大的差異。
互擴散 Interdiffusion 解聚 Depolymerization 脆化 Embrittlement 下一篇如何寫論文做報告
|
掃一掃,關注手機APP